ÑÐÏÑÊÀ ÀÊÀÄÅÌÈ£À ÍÀÓÊÀ È ÓÌÅÒÍÎÑÒÈ
ÎÄŊŌŠÒÅÕÍÈ×ÊÈÕ ÍÀÓÊÀ
È
ÒÅÕÍÎËÎØÊÎ-ÌÅÒÀËÓÐØÊÈ ÔÀÊÓËÒÅÒ ÓÍÈÂÅÐÇÈÒÅÒÀ Ó ÁÅÎÃÐÀÄÓ
èìà¼ó ÷àñò äà Âàñ ïîçîâó äà ïðèñóñòâó¼åòå
êîíôåðåíöè¼è
ÄÐÓÃÀ ÌÅ€ÓÍÀÐÎÄÍÀ ÊÎÍÔÅÐÅÍÖÈ£À Î ÅËÅÊÒÐÎÍÑÊΣ ÌÈÊÐÎÑÊÎÏÈ£È ÍÀÍÎÑÒÐÓÊÒÓÐÀ
SECOND INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRON MICROSCOPY OF NANOSTRUCTURES
22–26. àâãóñò
22222
Ñâå÷àíî îòâàðàœå, ïîíåäåšàê, 22. àâãóñòà 2022. ãîäèíå ó 9 ñàòè
Ñâå÷àíà ñàëà ÑÀÍÓ